UU型磁芯损耗的相关问题

　　   多数设计师是熟悉UU型磁芯损耗的。早期的课程展示的磁材的B-H曲线中描述了磁滞曲线。那是一种在磁芯励磁时偏移的输出。在分度EE过程后，经常包括这种如同实验室中所展示的一样。
   图1展示出磁芯材料典型的曲线。用它做电感或变压器，在一个DC/DC变换器中，电感通常要直流偏置，因此运行时会相对小距离的离开工作点。而变压器磁芯驱动会更强烈，它会接近饱和点，而且在工作的每个周期还要返回零点。
   在每个开关周期中要运行更大的磁通，就会有更大的磁芯损耗。而BH曲线滞环的面积就决定了损耗，至少是每个周期的△B的平方的函数。
   快速开关频率会有数倍的BH环向外摆出，当我们去重复这个曲线时，环路越宽，我们走的越远。这个结果是比励磁频率的一次幂更大的结果。
   UU型磁芯损耗的物理意义是极其复杂的。还没有一个人已做出容许我们从材料结构及化学构造去预计出磁芯损耗。所有磁芯损耗数据都直接来自精确的实验。不管它是旧传统用的线路频率的硅钢还是近来从切棱制造的高频软磁铁氧体，它都不简单。沃波的论文，在此SPM的假设中，展示出磁芯损耗的物理性质是不规则碎片形，而且随后显示出人工分析结果。
   每次一种新材料造出后，它必须按精确标准的测试装置在实验台上测出。自身测试是非常难以理解的，我们不去覆盖在这种条件下的测试规范，但我们能提供一个关注词，自己测磁芯损耗不能推荐。需要收到可靠的结果的测试设备装置是满冗长的，并且是很困难的。